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LED作為“第四代新光源”，具有理論壽命長、發(fā)光效率高、能耗低等特點，已逐漸進入普 通照明領(lǐng)域，市場份額逐年增加。LED的理想預(yù)期壽命超過5萬小時，但目前實際壽命與之相 去甚遠，嚴重影響了LED的大規(guī)模應(yīng)用，而LED的可靠性測試及壽命預(yù)測是解決這一問題的關(guān) 鍵。進行可靠性測試及壽命測試可以幫助LED生產(chǎn)廠家及時發(fā)現(xiàn)LED產(chǎn)品的設(shè)計缺陷以及影響 其實際壽命的原因，從而對LED產(chǎn)品進行優(yōu)化，延長其實際使用壽命。

壽命試驗是在實驗室模擬各種使用條件來進行的,為了縮短試驗時間在不改變失效機理的條 件下,用加大應(yīng)力的方法來進行試驗,這就是加速壽命試驗。LED發(fā)光亮度隨著長時間工作而 出現(xiàn)光強或光亮度衰減現(xiàn)象。器件老化程度與外加恒流源大小有關(guān)。實際測定LED壽命的時 間要花很長時間，故有必要進行加速老化測試方法。

通常計算LED 的壽命采取有三種方法:
1. 普通條件實驗外推法
2. 溫度加速壽命實驗法
3. 電流加速壽命實驗法