LED作為“第四代新光源”,具有理論壽命長、發(fā)光效率高、能耗低等特點(diǎn),已逐漸進(jìn)入普 通照明領(lǐng)域,市場份額逐年增加。LED的理想預(yù)期壽命超過5萬小時(shí),但目前實(shí)際壽命與之相 去甚遠(yuǎn),嚴(yán)重影響了LED的大規(guī)模應(yīng)用,而LED的可靠性測試及壽命預(yù)測是解決這一問題的關(guān) 鍵。進(jìn)行可靠性測試及壽命測試可以幫助LED生產(chǎn)廠家及時(shí)發(fā)現(xiàn)LED產(chǎn)品的設(shè)計(jì)缺陷以及影響 其實(shí)際壽命的原因,從而對LED產(chǎn)品進(jìn)行優(yōu)化,延長其實(shí)際使用壽命。
壽命試驗(yàn)是在實(shí)驗(yàn)室模擬各種使用條件來進(jìn)行的,為了縮短試驗(yàn)時(shí)間在不改變失效機(jī)理的條 件下,用加大應(yīng)力的方法來進(jìn)行試驗(yàn),這就是加速壽命試驗(yàn)。LED發(fā)光亮度隨著長時(shí)間工作而 出現(xiàn)光強(qiáng)或光亮度衰減現(xiàn)象。器件老化程度與外加恒流源大小有關(guān)。實(shí)際測定LED壽命的時(shí) 間要花很長時(shí)間,故有必要進(jìn)行加速老化測試方法。
通常計(jì)算LED 的壽命采取有三種方法:
1. 普通條件實(shí)驗(yàn)外推法
2. 溫度加速壽命實(shí)驗(yàn)法
3. 電流加速壽命實(shí)驗(yàn)法